冷熱沖擊試驗箱測試導(dǎo)致BGA失效的原因
文章出處：正航儀器
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發(fā)表時間：2014-01-06
本周正航儀器的工程師使用冷熱沖擊試驗箱測試BGA，根據(jù)試驗結(jié)果，得出了其失效的原因，下面和大家分享，以供參考：
1、通過冷熱沖擊試驗對BGA封裝進行了可靠性測試，在通過600 個循環(huán)試驗后發(fā)現(xiàn)，由于焊料的CTE與焊球和焊盤的CTE 不匹配，導(dǎo)致焊料在高速的溫度變化率和長久的高低溫段的停留中，應(yīng)力未能完全釋放而形成空洞和晶格缺陷。
2、PCB 板的制作過程中在板面遺留下來的物質(zhì)會在熱應(yīng)力下被氣化而導(dǎo)致焊盤與基材之間連接不牢靠而造成分離。另外，焊料會與經(jīng)過沉Ni/Au 處理的焊盤表面的物質(zhì)相互擴散，從而降低它們之間的連接能力，使BGA 失效。
東莞正航儀器設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗箱，采用的計測裝置,日本原裝進口的OYO控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行。http://www.jiangchuanxian.com
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